查看同类图书：科学技术»工业技术»一般工业技术»材料科学研究与测试方法

材料科学研究与测试方法

【作　者】：朱和国、王恒志编

【丛编项】：普通高等教育"十一五"国家级规划教材

【装帧项】：平装 16 / 333

【出版项】：东南大学出版社 / 2008年

【ISBN号】：9787564111045 / 7564111046

【原书定价】：￥33.00　有2家书店打折销售　

【主题词】：工业技术－一般工业技术

书籍介绍

购买本书

【图书简介】
　　本书首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、x射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用；介绍了AES、XPS、STM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用；最后简单介绍了光谱分析技术，包括原子光谱、红外光谱、激光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非品态材料、金属问化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。本书是教育部评选的普通高等教育“十一五”国家级规划教材，可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。-读书网|DuShu.com

【本书目录】
1 晶体学基础
1.1 晶体及其基本性质
1.2 晶向、晶面及晶带
1.3 晶体的宏观对称及点群
1.4 晶体的微观对称与空间群
1.5 晶体的投影
1.6 倒易点阵
本章小结
思考题
2 X射线的理基础
2.1 X射线的发展史
2.2 X射线的性质
2.3 X射线谱
2.4 X射线与物质的相互作用
本章小结
思考题
3 X射线的衍射原理
3.1 X射线衍射的方向
3.2 X射线的衍射强度
本章小结
思考题
4 X射线的多晶衍射分析及其应用
4.1 X射线衍射仪
4.2 X射线物相分析
4.3 点阵常数的精确测定
4.4 宏观应力的测定
4.5 微观应力及晶粒大小的测定
4.6 非晶态物质及其晶化后的衍射
4.7 膜厚的测量
4.8 多晶体的织构分析
本章小结
思考题
5 电子显微分析的基础
5.1 光学显微镜的分辨率
5.2 电子波的波长
5.3 电子与固体物质的作用
5.4 电子衍射
本章小结
思考题
6 透射电子显微镜
7 薄晶体的高分辨像
8 扫描电子显微镜及电子探针
9 表面分析技术
10 热分析技术
11 光谱分析技术
附录
参考文献

【购买本书】

购书指南»

商城名称	价格	配送信息	优惠活动	去看看	购买
卓越网	￥28.10	送货上门：国内308个城市邮寄：全球特快专递：全球海外航空快递	七周年店庆，全场免费配送	去看看	订购
当当网	￥26.80	当天加急送：北京五环以内送货上门：国内178个城市邮寄：全球特快专递：全球	特惠商品68折封顶	去看看	订购