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正电子发射断层显像用放射性药物：制备、质量控制及代谢物分析

正电子发射断层显像用放射性药物：制备、质量控制及代谢物分析

定　价：¥15.00

作　者：	（德）G.斯托克林（G.Stocklin），（英）V.W.派克（V.W.Pike）主编；卢玉楷等译
出版社：	原子能出版社
丛编项：
标　签：	正电子

ISBN：	9787502216757	出版时间：	1997-12-01	包装：
开本：	20cm	页数：	256页	字数：

内容简介

暂缺《正电子发射断层显像用放射性药物：制备、质量控制及代谢物分析》简介

作者简介

暂缺《正电子发射断层显像用放射性药物：制备、质量控制及代谢物分析》作者简介

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