数字系统测试与可测试设计

定　价：¥56.00

作　者：	（美）阿布拉莫韦奇等著，李华伟等译
出版社：	机械工业出版社
丛编项：	电子工程丛书
标　签：	数字系统设计

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ISBN：	9787111192374	出版时间：	2006-08-01	包装：	胶版纸
开本：	16开	页数：	449	字数：

内容简介

　　本书系统介绍数字系统测试的理论和方法，深入探讨测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等主题，包括该领域的最新进展，并提供大量支持实践应用的理论资料。本书共分15章，前8章主要介绍基础的测试理论和方法，包括数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法、故障建模、故障模拟、测试单固定型故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及其范围；第9～11章主要介绍数字系统的可测试性设计、内建自测试、测试数据压缩等现代测试理论和方法；第12～15章主要讨论一些高级测试理论和方法，包括逻辑级与系统级诊断、自校验设计和可编程逻辑阵列测试。 .本书可作为电路CAD技术人员、芯片和系统设计者以及测试工程师的参考资料，也可作为高等院校相关专业高年级本科生或研究生的教材。...

作者简介

　　本书提供作译者介绍李华伟：中国科学院计算技术研究所副研究员，先进测试技术实验室副主任，博士生导师。1996年在湘潭大学计算机科学系获学士学位。1999年和2001年分别在中科院计算技术研究所获硕士学位和博士学位。主要研究领域为集成电路测试，在国内外刊物和国际学术会议上发表论文60余篇，授权发明专利一项。获中国科学院院长奖学金特别奖（2001年）、中国科学院杰出科技成就奖（2003年）及中国计算机学会创新奖（入围奖／2005年）。.鲁巍：Synopsys公司工程师，计算机博士。2000年在哈尔滨理工大学计算...

图书目录

译者序
译者简介
中文版前言
前言
本书是如何写出来的
第1章绪论
第2章建模
2.1 基本概念
2.2 逻辑级的功能建模
2.3 寄存器级的功能建模
2.4 结构模型
2.5 建模的层次
参考文献
习题
第3章逻辑模拟
3.1 应用
3.2 基于模拟设计验证中的问题
3.3 模拟的类型
3.4 未知的逻辑值
3.5 编译后模拟
3.6 事件驱动模拟
3.7 叶延模型
3.8 元件求值
3.9 冒险检测
3.10 门级事件驱动模拟
3.11 模拟引擎
参考文献
习题
第4章故障模型
4.1 逻辑故障模型
4.2 故障检测和冗余
4.3 故障等价和故障定位
4.4 故障支配
4.5 单固定型故障模型
4.6 多固定型故障模型
4.7 固定的RTL变量
4.8 故障变量
参考文献
习题
第5章故障模拟
5.1 应用
5.2 通用故障模拟技术
5.3 组合电路的故障模拟
5.4 故障采样
5.5 统计故障分析
5.6 本章小结
参考文献
习题
第6章单固定型故障测试
6.1 基本问题
6.2 组合电路中的单固定型故障的自动测试生成
6.3 时序电路SSF的ATC
6.4 本章小结
参考文献
习题
第7章桥接故障测试
7.1 桥接故障模型
7.2 无反馈桥接故障的检测
7.3 桥接故障的检测
7.4 桥接故障模拟
7.5 桥接故障的测试生成
7.6 本章小结
参考文献
习题
第8章功能测试
……
第9章可测试性设计
第10章测试压缩技术
第11章内建自测试
第12章逻辑级诊断
第13章自校验设计
第14章 PLA测试
第15章系统级诊断
索引