第1章 简介
1.1 SOC测试的重要性
1.2 SOC测试一些标准
1.2.1 边界扫描(IEEEll49.1)
1.2.2 IEEE ll49.6
1.2.3 模拟与混合信号电路边界扫描标准IEEE Pll49.4
1.2.4 IEEE Pl500
1.2.5 IEEE Pl687
参考文献
第2章 扫描测试与内建自测试
2.1 基本的扫描设计结构
2.1.1 基于多路选择器一D触发器的扫描设计
2.1.2 带时钟的扫描设计
2.1.3 电子敏感扫描设计
2.1.4 增强的扫描设计
2.2 低功耗扫描设计结构
2.2.1 多相或多序低功耗扫描设计
2.2.2 通带宽度匹配的低功耗扫描设计
2.3 实速扫描设计
2.4 逻辑内建自测试
2.4.1 测试图形生成电路
2.4.2 测试响应压缩
2.4.3 逻辑内建自测试结构
2.4.4 低功耗BIST结构
2.5 实速逻辑BIS了
2.5.1 单捕获
……
第3章 SOC测试与NOC测试
第4章 测试压缩
第5章 延迟测试
第6章 低功耗测试
第7章 模拟与混合信号测试
第8章 射频电路测试
第9章 基本软件的自测试
附录