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乏信息可靠性分析

乏信息可靠性分析

定　价：¥120.00

作　者： 夏新涛
出版社： 科学出版社
丛编项：
标　签： 电子 通信 工业技术 一般性问题

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ISBN： 9787030549969 出版时间： 2017-11-01 包装： 平装
开本： B5 页数： 340 字数：  

内容简介

　　本书主要论述乏信息可靠性评估与预测方法，主要内容包括：乏信息可靠性分析的基本概念、二参数Weibull分布可靠性评估、三参数Weibull分布可靠性评估与假设检验、失效数据的可靠性模型评估、无失效数据的可靠性预测、制造过程的可靠性评估、机械产品的品质实现可靠性评估、性能数据驱动的可靠性演变过程预测等。

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