高频电子电路S参数测量与校准技术

　　描述传输通道频域特性的散射参数（scattering parameter，S参数），用于表征被测器件线性矢量参数频率响应的幅频与相频特性，是高频电子电路中最基本、最常用的核心指标参数之一。本书以S参数测量与校准为切入点，以图文并茂的方式深入浅出地介绍了S参数的基本概念与发展历史、矢量网络分析仪结构与工作原理、性能指标解读与评判、各种S参数校准、去嵌方法原理与优劣、不确定度分析、自动测试技术、使用技巧和注意事项、行业最新发展动态等，全面总结了迄今为止各种S参数校准、去嵌方法的数学原理及该领域多年发展成果。本书适合进行S参数测试相关的专业人士阅读使用，也适合作为广大高等院校相关专业学生以及企业、研究机构相关专业人员的参考书。 本书创新点：·以国家战略需求为导向，直面“卡脖子”痛点和难点·作者权威，在射频芯片研究领域深耕多年·代表我国高精度测量领域高精尖技术前沿

　　郁发新教授浙江大学航天电子工程研究所所长、博士生导师，国家wr计划科技领军人才、国防科技卓越青年人才和国防科技创新团队牵头人。在射频模拟芯片领域具有扎实的理论基础和丰富的di一线研发经验，开发了大量通信、导航、雷达所用的高端射频模拟芯片，有效支撑了我国多个重点型号的装备，大力推动了我国高端射频模拟芯片技术快速发展。