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CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法

CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法

定　价：¥16.00

作　者：	（美）R.R.特劳特曼（R.R.Troutman）著；嵇光大，卢文豪译
出版社：	科学出版社
丛编项：	微电子学系列
标　签：	互补MOS集成电路

ISBN：	9787030048578	出版时间：	1996-04-01	包装：
开本：	20cm	页数：	210页	字数：

内容简介

暂缺《CMOS技术中的闩锁效应：问题及其解决方法》简介

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