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测试工程学

测试工程学

定　价：¥10.20

作　者：	（日）Yi屋公明，（日）山田光著；张鄂等译
出版社：	国防工业出版社
丛编项：
标　签：	测试

ISBN：	9787118002850	出版时间：	1989-04-01	包装：
开本：	26cm	页数：	313页	字数：

内容简介

　　本书论述了测试技术的各个有关问题，包括测试学概论，信号的检出与变换;信号的性质与传输;数据的分析、处理与判断;测试与控制;测试精度;主要的测试系统等。

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