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万用表检测技术(上)

万用表检测技术(上)

定 价:¥22.00

作 者: 沙占友,沙莎 著
出版社: 电子工业出版社
丛编项: 万用表实用技术丛书
标 签: 电工技术

ISBN: 9787121008917 出版时间: 2005-02-01 包装: 胶版纸
开本: 小16开 页数: 240 字数:  

内容简介

  本书为“世纪新版万用表实用技术丛书”的第二册。本书共12章,从实用角度出发,深入阐述了利用指针万用表检测半导体二极管、特种半导体二极管、稳压管、稳流管、可调试精密并联稳压器、整流器件、双极型晶体管、场效应管、单结晶体管、晶闸管、光电器件、光耦合器、显示器件的原理、方法及注意事项,共计160个典型实例。本书具有科学性、实用性和创新性,题材,内容丰富,深入浅出,可供电子与电工技术技术人员,仪器仪表及家用电器维修人员和电子爱好者阅读。

作者简介

  沙占友,河北科技大学教授,校级教学名师,河北省优秀教师.已出版《数字化测量技术与应用》、《新型单片开关电源的设计与应用》、《集成化智能传感器原理与应用》、《智能传感器系统设计与应用》、《单片机外围电路设计》等21部专著,发表学术论文245篇。曾先后荣获河北省普通高校优秀教学成果一等奖、河北省科技进步奖,河北省十大发明奖和97布鲁塞尔尤里卡银奖。相关图书

图书目录

第1章 检测半导体二极管
1.1 判定二级管正、负极的方法
1.2 检测二级管质量好坏的方法
1.3 区分硅二极管与锗二极管的方法之一
1.4 区分硅二极管与锗二极管的方法之二
1.5 测量二极管反向击穿电压的方法
1.6 测绘二极管伏安特性的方法
1.7 检测高速开关二极管的方法
第2章 检测特种半导体二极管
2.1 检测快恢复、超快恢复二极管的方法
2.2 检测消特基二极管的方法
2.3 检测隧道二极管的方法
2.4 检测变容二极管的方法
第3章 检测稳压管
3.1 稳压管的产品分类
3.2 区分稳压管与二极管的方法
3.3 检测稳压管质量好坏的方法
3.4 测量稳压管电压的方法
3.5 测量稳压管伏安特性的方法
第4章 检测恒流源
4.1 恒流源的产品分类
4.2 检测恒流二极管的方法
4.3 检测恒流三极管的方法
4.4 检测可调式精密集成恒流源的方法
4.5 测绘稳流管伏安特性的方法
第5章 检测整流器件
5.1 检测整流二极管的方法
5.2 检测整流桥的方法
5.3 检测高压硅堆的方法
第6章 检测双极型晶体管
6.1 判定晶体管电极的方法
6.2 准确判定晶体管C、E电极的方法
6.3 区分硅晶体管与锗晶体管的方法
6.4 区分高频管与低频管的方法
6.5 测量晶体管穿插透电流的方法
6.6 测量晶体管反向截止电流的方法
6.7 测量晶体管击穿电压的方法
6.8 估测晶体管放大能力的方法
6.9 估测晶体管hFE的方法
6.1 准确测量晶体管hFE的简便方法
6.11 测量在线晶体管hFE的一般方法
6.12 测量晶体管的hFE一般方法
6.13 利用LI刻度线测量晶体管hFE的方法
6.14 检测片状晶体管的方法
6.15 判定晶体管工作状态的方法
6.16 测绘晶体管正向AGC特性的方法
6.17 晶体管放大器故障速查法
6.18 估测功率晶体管放大能力的方法
6.19 估测功率晶体管hFE的方法
6.2 检测功率开关管的方法
6.21 检测达林顿管的方法
6.22 检测微型高增益达林顿管的方法
6.23 检测巨型晶体管的方法
6.24 检测差分对管的方法
6.25 检测互补对管的方法
第7章 检测场效应管
7.1 判定结型场效应管电极的方法
7.2 检查结型场效应管质量好坏的方法
7.3 估测结型场效应管放大能力的方法
7.4 测量结型场效应管漏-源通态电阴及零偏压跨导的方法
7.5 测量结型场效应管栅-源截止电压的方法
7.6 测量结型场效应管零偏压漏极电流及饱和区跨导的方法
7.7 测量结型场效应管击穿插电压的方法
7.8 检测MOS场效应管的方法
7.9 检测VMOS场效应管的方法
7.1 检测IGBT的方法
第8章 检测单结晶体管
8.1 判定单结晶体管电极的方法
8.2 检查单结晶体管触发能力的方法
8.3 估测单结晶体管分压比及峰值电压的方法
8.4 测量单结晶体管分压比的方法
8.5 测量程控制单结晶体管的方法
第9章 检测晶闸管
9.1 判定普通晶闸管和快速晶闸管电极的方法
9.2 检查晶闸管触发能力的方法
9.3 测量晶闸管断态峰值电压的方法
9.4 判定双向晶闸管的电极并检查触发能力的方法
9.5 检查大功率双向晶闸管触发能力的方法
9.6 检测双向晶闸管质量好坏的方法
9.7 检测双向二极管的方法
9.8 检测硅单向开关的方法
9.9 检测硅双向开关的方法
9.1 检测可关断晶闸管的方法
9.11 检测硅控制开关的方法
9.12 检测逆导晶闸管的方法
第1章 检测光电器件
1.1 检测单色发光二极管的方法
1.2 区分高亮度、低亮度发光二极管的方法
1.3 检测微型发光二极管的方法
1.4 检测蓝色高亮度发光二极管的方法
1.5 检测白色高亮度发光二极管的方法
1.6 检测双色发光二极管的方法
1.7 检测三变色发光二极管的方法
1.8 测量发光二极管正向电压的方法
1.9 同时测量发光二极管正向电流和正向电压的方法
1.1 测绘发光二极管伏安特性的方法
1.11 测绘变色发光二极管伏安特性的方法
1.12 检测电压控制型发光二极管的方法
1.13 检测闪烁发光二极管的方法
1.14 检测负阻型发光二接管的方法
1.15 检测光电管的方法
1.16 检测光电二极管的方法
1.17 检测光敏三极管的方法
1.18 检测红外发射、接收对管的方法
1.19 检测光电开关的方法
1.2 检测光敏电阻的方法
第11章 检测光耦合器
11.1 检测光耦合器的方法
11.2 测量光耦合器主要参数的方法
11.3 估测光耦合器电流传输能力的方法
11.4 测量光耦合器电流传输比的方法
11.5 区分通用型与达林顿型光耦合器的方法
11.6 检测线性光耦合器的方法
第12章 检测显示器件
12.1 常显示器件的产品分类
12.2 检测辉光数码管的方法
12.3 检测荧光码管的方法
12.4 检测LED数码管的方法
12.5 检测大型LED数码管的方法
12.6 区分高亮度、普通亮度LED数码管的方法
12.7 检测LED符号管的方法
12.8 检测LED电平显示器的方法
12.9 检测LED条图显示器的方法
12.1 检测双位及三位LED数码管的方法
12.11 检测双位LED扫描显示器的方法
12.12 检测单色LED点阵显示器的方法
12.13 检测彩色LED点阵显示器的方法
12.14 检测微型化多位LED点阵显示器的方法
12.15 检测LED面发光器件的方法
12.16 检测CMOS-LED组件的方法
12.17 检测多位CMOS-LED组件的方法
12.18 检测静态驱动式LCD的方法
12.19 检测扫描驱动式LCD的方法
12.2 检测LCD点阵显示器的方法
12.21 检测CRT像元管的方法
12.22 检测磁翻板显示器的方法

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