半导体工程学

定　价：¥12.00

作　者：	（日）中嵨坚志郎编著；熊缨译
出版社：	OHM社
丛编项：
标　签：	暂缺

购买这本书可以去

ISBN：	9787030093226	出版时间：	2001-06-01	包装：	精装
开本：	21cm	页数：	140	字数：

内容简介

　　本书是21世纪大学新型参考教材系列之一，书中主要讲解半导体工程学基础、半导体中的电子和空穴、载流子输送现象、pn结和金属-半导体接触、二极管和双极晶体管、金属-绝缘体-半导体（MIS）结构基础等。作者均为工作在微电子专业教学科研第一线的专家教授，书中内容新颖、重点突出，文字叙述深入浅出、流畅易懂。书中穿插有“篇外活”可作为正文内容的补充说明。各章末均有练习题，书后附有练习题解答。本书可供大学生、硕士生及科技工作者阅读参考。

作者简介

暂缺《半导体工程学》作者简介

图书目录

1 半导体工程学基础
1.1半导体的种类
1.2半导体的特征
练习题
2 半导体中的电子和空穴
2.1晶体结构和原子及固体的电子能量
2.2固体(晶体)中的电子、空穴运动
2.3本征半导体和杂质半导体
2.4热平衡的载流子浓度
练习题
3 载流子输运现象
3.1导电现象
3.2霍尔效应
3.3非平衡状态下的载流子输运现象
3.4扩散方程式
练习题
4 pn结和金属-半导体接触
4.1热平衡状态下的pn结
4.2pn结的电势和电容
4.3金属-半导体接触
练习题
5 二极管和双极晶体管
5.1流经pn结的电流
5.2双极晶体管的电流传输和放大作用
练习题
6 金属-绝缘体-半导体(MIS)结构基础
6.1理想MIS结构
6.2实际的MIS结构
6.3MIS的过渡响应
练习题
附录间接复合过程
练习题解答
参考文献
篇外话
广阔的半导体器件世界
密勒指数的求法
电子的光吸收和释放
电导率的测定(4探针法)
磁阻效应
真空能级
带有界面能级的金属-半导体接触
结击穿
界面能评价法
具有MIS结构的器件