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数字系统测试与可测性

数字系统测试与可测性

定　价：¥9.80

作　者：	曾芷德编著
出版社：	国防科技大学出版社
丛编项：
标　签：	数字系统自动检测

ISBN：	9787810241953	出版时间：	1992-12-01	包装：
开本：	26cm	页数：	266页	字数：

内容简介

　　本书介绍了数字系统测试与可测性领域的基本理论和方法。内容包括：数字系统的故障与故障模型、组合电路的路径敏化一类测试生成算法、时序电路的结构测试与功能测试方法等。

作者简介

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