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数字系统的测试与容错

数字系统的测试与容错

定　价：¥3.05

作　者：	陈廷槐主编
出版社：	东南大学出版社
丛编项：	高等学校教材
标　签：	数字系统

ISBN：	9787810232555	出版时间：	1990-01-01	包装：
开本：	26cm	页数：	233页	字数：

内容简介

　　本书主要介绍测试的生成、可测试性设计、系统级诊断、容错技术、故障检测技术等。

作者简介

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