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互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

定 价:¥20.00

作 者: 廖念钊主编
出版社: 中国计量出版社
丛编项: 高等学校适用教材
标 签: 测量

ISBN: 9787502615888 出版时间: 2002-03-01 包装: 平装
开本: 26cm 页数: 0 字数:  

内容简介

  本书包括:尺寸公差与圆柱结合的互换性、测量技术基础、形位公差及检测、表面粗糙度、量规与光滑工件尺寸的检测等内容。

作者简介

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