绪论
一、测试技术的新领域
二、数据域测试的基本方法
三、计算机辅助测试
四、可测性和内测试
五、数据域测试仪器
第一章 数据域测试的基本概念
第一节 数字系统的测试
一、数字系统测试的必要性和复杂性
二、故障模型与测试
三、故障冗余
四、完备测试集与故障等价
五、测试矢量的产生
大、测试响应的观测
七、复杂系统的分级测试
第二节 旁举测试法
一、单输出无扇出电路
二、带汇聚扇出的单输出电路
三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路
第三节 故障表方法
一、固定式列表计划侦查
二、固定计划定位
三、适应性计划侦查和定位
习题
第二章 组合逻辑电路的测试
第一节 通路敏化
一、敏化通路
二、通路敏化法
三、关于一维敏化的讨论
四、多维敏化
第二节 d算法
一、d算法的基础知识
二、d算法的基本步骤
三、d算法举例
四、扩展d算法
五、关于多故障的讨论
第三节 临界通路法
第四节 布尔差分法
一、布尔差分的基本概念
二、布尔差分的特性
三、求布尔差分的方法
四、单故障的测试
五、多重故障的测试
六、主路径敏化法
第五节 故障字典
习题
第三章 时序逻辑电路的测试
第一节 迭接电路法
一、基本思想
二、同步时序电路的组合迭接
三、异步时序电路的组合迭接
第二节 时序故障表法
一、故障侦查
二、故障定位
第三节 状态变迁检查法
一、初始状态的设置
二、状态的识别
三、故障的测试
四、区分序列的存在性
第四节 时延测试
一、DPmax的测试
二、电路－时间方程
习题
第四章 微机系统的测试
第一节 存储器的测试
一、RAM中的故障类型
二、测试的若干原则性考虑
三、存储器测试方法
四、万法的比较
第二节 微处理器的测试
一、μP的算法产生测试
二、μP功能性测试的一般方法
三、μP功能性测试的系统图方法
第三节 利用被测系统的应用程序进行测试
一、基本概念
二、应用程序的模型化
三、关系图
四、测试的组织
五、通路测试的算法
第四节 利用总线观察进行测试
习题
第五章 数字系统的计算机辅助测试
第一节 计算机辅助测试的基本概念
一、概述
二、CAT的结构模型
三、测试算法
四、逻辑和功能描述
五、数据库
六、输出
第二节 d算法程序
一、DALG－II程序
二、实用中的具体问题
第三节 扩展d算法程序
一、系统结构
二、SXMS测试码自动生成系统
三、SXMDIAG故障测试系统
第四节 PODEM算法
第五节 微处理器测试产生程序
一、基本概念
二、RTL语言简介
三、测试码的生成
第六节 故障模拟
一、基本概念
二、故障模拟方法
三、并行模拟
四、演绎模拟
五、同时故障模拟
习题
第六章 可测性设计
第一节 可测性的测度
一、基本定义
二、标准单元的可测性分析
三、可控性和可观测性的计算
第二节 可测性设计方法
一、可测性的改善设计
二、结构可测性设计
三、其他可测试性设计方法简介
第三节 组合电路的异或门串联结构
一、Reed－Muller展开式
二、异或门串联电路结构测试分析
第四节 内测试设计
一、多位线性反馈移位寄存器
二、伪随机数发生器
三、特征分析器
四、内测试电路设计
第五节 边缘扫描技术
一、JTAG边缘扫描可测性设计的结构
二、工作万式
三、边缘扫描单元的级连
四、JTAG应用举例
五、JTAG的特点
习题
第七章 数据域测试仪器
第一节 数字信号发生器
一、数字信号发生器的作用
二、数字信号发生器的结构
三、数据的产生
四、数据流的特征
五、数字信号发生器的主要技术指标
第二节 特征分析仪
一、特征分析仪的基本原理
二、特征分析仪的故障侦出率
三、特征分析仪的基本结构
四、特征分析仪的工作
五、“特征”设计
第三节 逻辑分析仪
一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标
二、逻辑分析仪的基本结构
三、数据捕获
四、数据显示
五、应用
第四节 GP－IB母线分析仪
一、概述
二、母线分析仪的作用和功能
三、HP－59401A母线分析仪的内部组织
四、国产母线分析仪举例
第五节 规约分析仪
一、规约分析仪的原理
二、规约分析仪的基本结构
三、规约分析仪的技术指标
四、规约分析仪的应用与分类
第六节 数字传输测试
一、数字传输测试的基本概念
二、数据通信传输测试
三、PDH传输测试及仪器
四、SDH传输测试
第七节 数字通信测试
一、数字通信测试的基本概念
二、矢量信号发生器
三、矢量信号分析仪
第八节 开发系统
一、概述
二、开发系统的基本结构
三、仿真器
四、简易开发系统
五、通用开发系统
六、HP64000逻辑开发系统简介
习题
参考文献
鄂公网安备 42010302001612号 