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X射线检测关键技术与应用研究

X射线检测关键技术与应用研究

定　价：¥68.00

作　者：	方正著
出版社：	厦门大学出版社
丛编项：	厦门大学南强丛书第7辑
标　签：	理论物理学物理学自然科学

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ISBN：	9787561580684	出版时间：	2021-03-01	包装：	平装-胶订
开本：	16开	页数：		字数：

内容简介

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