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X射线检测关键技术与应用研究

X射线检测关键技术与应用研究

定 价:¥68.00

作 者: 方正 著
出版社: 厦门大学出版社
丛编项: 厦门大学南强丛书第7辑
标 签: 理论物理学 物理学 自然科学

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ISBN: 9787561580684 出版时间: 2021-03-01 包装: 平装-胶订
开本: 16开 页数: 字数:  

内容简介

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