半导体器件物理

出版说明
前言
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第1章　半导体特性
  1.1　半导体的晶体结构
    1.1.1　晶体的结构
    1.1.2　晶体的各向异性
  1.2　半导体的电性能
    1.2.1　温度和半导体
    1.2.2　杂质和半导体
    1.2.3　光照和半导体
    1.2.4　其他因素和半导体
  1.3　半导体中的电子状态和能带
    1.3.1　电子的共有化运动
    1.3.2　电子状态和能带
  1.4　半导体中的杂质和缺陷
    1.4.1　半导体中的杂质和杂质能级
    1.4.2　半导体中的缺陷和缺陷能级
  1.5　载流子的运动
    1.5.1　载流子浓度与费米能级位置的关系
    1.5.2　本征半导体的载流子浓度
    1.5.3　杂质半导体的载流子浓度
    1.5.4　载流子的漂移运动
    1.5.5　载流子的扩散运动
1.6　非平衡载流子
  1.6.1　非平衡载流子的产生和复合
  1.6.2　非平衡载流子的寿命
  1.6.3　复合理论
1.7　习题
第2章　P-N结
　2.1　P-N　结及其能带图
  　2.1.1　P-N　结的形成和杂质分布
  　2.1.2　p-N　结的能带图
  　2.1.3　P-N　结的载流子分布
　2.2　平衡P-N结
  　2.2.1　空间电荷区和接触电势差
 　 2.2.2　空间电荷区的电场和电位分布
　……
第3章 晶体管的直流特性
第4章 晶体管的频率特性与功率特性
第5章 晶体管的开关特性
第6章 双极型晶体管的设计
第7章 半导体表面特性及mos电容
第8章 mos场效应晶体管的基本特性
第9章 mos功率场效应晶体管
第10章 小尺寸mos器件的特点
附录
参考文献