目录第1章 库 11.1 标准单元 21.2 晶体管尺寸 101.3 输入/输出PAD 131.4 库参数化 191.5 总结 25参考文献 27第2章 布局规划 292.1 技术文件 302.2 电路描述 322.3 设计约束 352.4 设计规划 372.5 PAD布局 392.6 电源规划 422.7 宏模块布局 442.8 时钟规划 482.9 总结 50参考文献 52第3章 布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 时钟树综合 663.4 功耗分析 733.5 总结 75参考文献 77第4章 布线 794.1 特殊布线 804.2 全局布线 814.3 详细布线 874.4 寄生参数提取 924.5 总结 104参考文献 106第5章 验证 1075.1 功能验证 1085.2 时序验证 1105.3 物理验证 1255.4 总结 128参考文献 130第6章 测试 1316.1 功能测试 1336.2 扫描测试 1366.3 边界扫描测试 1386.4 故障测试 1406.5 参数测试 1416.6 电流和极低电压测试 1426.7 晶圆验收测试 1446.8 存储器内建自测试 1466.9 并联模块测试 1486.10 总结 148参考文献 151
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